XG5080
宽量程精密四探针方阻测试仪
- 产品描述
- 产品参数
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一、性能特点
■ 最高方阻精度：3%；方阻最小分辨：1μΩ
■ 最高电阻精度：0.05%；电阻最小分辨：1μΩ
■ 温度补偿功能(TC)；温度基本精度：0.1°C
■ 被测件厚度可预设，电阻率测试无需查表
■ 零底数设计，微弱电阻测试无需清零
■ 双电测模式，修正探针游移与样品边际效应
■ 电阻/方阻、电阻率、电导率、温度、湿度同步测试
■ HANDLER/USB/RS232/RS485接口远程控制
■ U盘记录测试数据，并可远程升级仪器固件
■ 符合国标GBT 1551-2009及GBT 1552-1995
■ 适用于测量半导体、导电薄膜、金属/纳米涂层、
■ 太阳能材料、陶瓷等，也可直接测量电阻器
■ 体积：400mm(宽)×130mm(高)×350mm(深) 净重：约8kg
二、性能特点
- 商品名称: 宽量程精密四探针方阻测试仪
- 商品编号: XG5080
关键词:- 四探针方阻测试仪
- 宽量程精密四探针方阻测试仪
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